微流體芯片測試是芯片開發(fā)以及生產(chǎn)過程中比較重要的一項設(shè)備，那么無錫冠亞微流體芯片測試的運行原理大家了解多少呢？

　　微流體芯片測試利用基于數(shù)字信號處理的測試技術(shù)來測試，微流體芯片測試能并行地進行參數(shù)測試，所以能減少測試時間，能把各個頻率的信號分量區(qū)分開來（也就是能把噪聲和失真從測試頻率或者其它頻率分量中分離出來），所以能增加測試的精度和可重復(fù)性。

　　微流體芯片測試采樣用于把信號從連續(xù)信號（模擬信號）轉(zhuǎn)換到離散信號（數(shù)字信號），重建用于實現(xiàn)相反的過程。自動測試設(shè)備（ATE）依靠采樣和重建給待測芯片（DUT）施加信號或者測量它們的響應(yīng)。測試中包含了數(shù)學上的和物理上的采樣和重建。

　　微流體芯片測試模擬開關(guān)，它的晶體管電阻隨著數(shù)字信號變化；可編程增益放大器，能用數(shù)字信號調(diào)節(jié)輸入信號的放大倍數(shù)；數(shù)模轉(zhuǎn)換電路（D/AsorDACs）；模數(shù)轉(zhuǎn)換電路（A/DsorADCs）；鎖相環(huán)電路（PLLs），常用于生成高頻基準時鐘或者從異步數(shù)據(jù)中恢復(fù)同步時鐘。

　　微流體芯片測試每個電源管腳消耗的電流是發(fā)現(xiàn)芯片是否存在災(zāi)難性缺陷的方法之一。每個電源管腳被設(shè)置為預(yù)定的電壓，接下來用自動測試設(shè)備的參數(shù)測量單元測量這些電源管腳上的電流。這些測試一般在測試程序的開始進行，以快速有效地選出那些*失效的芯片，電源測試也用于保證芯片的功耗能滿足終端應(yīng)用的要求。

　　用戶可對微流體芯片測試原理了解清楚之后再進行微流體芯片測試的選型工作，如果微流體芯片測試不會選擇，可以聯(lián)系微流體芯片測試廠家無錫冠亞進行選擇。（注：本來部分內(nèi)容來百度學術(shù)相關(guān)論文，如果侵權(quán)，請及時聯(lián)系我們進行刪除，謝謝。）